冷场发射扫描电子显微镜 (Scanning Electron Microscope)

仪器编码:03040702 仪器型号:S-4800
生产厂商:日本日立 购置日期:2009-8-1
负责人:许阳 王琴 联系电话:0551-65785847
主要技术指标及配件 二次电子像分辨率:
1.0nm (15kv,WD = 4 mm )
1.4nm (1kv,WD = 1.5 mm,减速模式)
2.0nm (1kv,WD = 1.5 mm,普通模式)
放大倍率:×20 ~ ×800,000
束流:1 pA ~2 nA
加速电压:0.5kv ~ 30kv
系统配套组件:1、离子溅射仪(Hitachi E-1010)
2、CO2临界点干燥仪(Emitech K850)
主要应用领域和提供服务范围:
可应用于生物学、食品科学、环境科学、医学、材料科学领域。如生物组织器官、金属或非金属纳米材料、高分子聚合物、纤维、粉末等的表面形貌观察和粒径测量。
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