冷场发射扫描电子显微镜
（Scanning Electron Microscope）

仪器编码：03040702    仪器型号：S-4800

生产厂商：日本日立    购置日期：2009-8-1

负责人：许阳 王琴     联系电话：0551-65785847

主要技术指标及配件  二次电子像分辨率：

1.0nm （15kv，WD = 4 mm )

1.4nm  (1kv，WD = 1.5 mm，减速模式）

2.0nm （1kv，WD = 1.5 mm，普通模式）

放大倍率：×20 ～ ×800,000

束流：1 pA ～2 nA

加速电压：0.5kv ～ 30kv

系统配套组件：1、离子溅射仪（Hitachi E-1010)

              2、CO₂临界点干燥仪（Emitech K850）

主要应用领域和提供服务范围： 

可应用于生物学、食品科学、环境科学、医学、材料科学领域。如生物组织器官、金属或非金属纳米材料、高分子聚合物、纤维、粉末等的表面形貌观察和粒径测量。