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仪器名称： S4800场发射扫描电子显微镜（Field Emission Scanning Electron Microscope）

仪器厂家：日本Hitachi公司

仪器型号：S4800

仪器详细说明：

一、主要技术指标：

二次电子图像分辨率：1.0nm @15kV， 1.4nm @1kV（减速模式）

电子枪：冷场发射电子源

放大倍率：30-800,000×

加速电压：0.5kV-30kV

能谱仪：分辨率（Mn Ka）127 Ev;分析元素范围：4Be-98Cf；有效面积150mm2

二、主要附件及功能：

Hitachi E-1010 离子溅射仪（铂靶）；Oxford AZtec X-Max 150 牛津150mm2电制冷能谱仪；Quorum K850 CO2临界点干燥仪

三、仪器主要应用领域和提供服务范围：

适合于微米及纳米级的固体物质表面形貌表征、粒径测量、结构分析以及微区元素定性分析。应用于动植物学、物理、化学、金属材料、纳米材料、高分子材料等方面。